矿产矿石原料固体粉末分析仪XRF光谱仪 X射线荧光光谱仪
- 简介：DX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了先进的基于Windows
产品详细
DX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家
作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了ZY的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的工具之一。
ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。
EDX9000B专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：
•铁矿• 铜矿• 铝土矿•贵金属矿产•稀土矿•原料•磷酸盐•煤炭•铅锌矿•锰矿•镍矿•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等
EDX9000B操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用
>塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析
>石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析
>环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等
>涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等
>刑侦：证据分析，材料匹配等
>食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等
产品特点
作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000B兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：
•无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果
•强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响
•50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率
•能同时进行元素和氧化物成分分析
•多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全
矿产元素检测专家EDX9000B
>仪器参数
|
仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm |
|
超大样品腔：460mm*310mm*95mm |
|
半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm |
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仪器重量: 45Kg |
|
元素分析范围：Na11-U92钠到铀 |
|
可分析含量范围：1ppm- 99.99% |
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探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器 |
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多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器 |
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X光管：50W高功率铍窗光管 |
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高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护 |
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电压：220ACV 50/60HZ |
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环境温度：-10 °C 到35 °C |
仪器配置
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>标准配置 |
>可选配置 |
|
纯Ag初始化标样 |
磨样机 |
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真空泵 |
压片机 |
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矿石专用样品杯 |
烘干箱 |
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USB数据线 |
熔片机 |
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电源线 |
电子秤 |
|
测试薄膜 |
矿石标准样 |
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仪器出厂和标定报告 |
交流净化稳压电源 |
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保修卡 |
150目筛子 |
功能强大而界面友好的测试软件
界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。
软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品
>一键初始化仪器，基体自动匹配
>自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比
>光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强影响
>光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度
>可实时刷新测量结果
>简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线
>可定制化测试报告，一键打印
磁铁矿样品10次测试稳定性报告
|
测量次数 |
Fe(%) |
SiO2(%) |
TiO2(%) |
MnO(%) |
Zn(%) |
S(%) |
P(%) |
Pb(%) |
K2O(%) |
|
1_1 |
65.4014 |
6.6936 |
0.1123 |
0.0489 |
0.0090 |
0.8309 |
0.0118 |
0.0076 |
0.0684 |
|
1_2 |
65.4336 |
6.6575 |
0.1038 |
0.0465 |
0.0095 |
0.9092 |
0.0121 |
0.0075 |
0.0667 |
|
1_3 |
65.3603 |
6.7127 |
0.1132 |
0.0495 |
0.0093 |
0.8903 |
0.0119 |
0.0071 |
0.0677 |
|
1_4 |
65.3935 |
6.7233 |
0.1278 |
0.0483 |
0.0097 |
0.8303 |
0.0117 |
0.0068 |
0.0684 |
|
1_5 |
65.3812 |
6.7145 |
0.1058 |
0.0493 |
0.0097 |
0.8303 |
0.0117 |
0.0066 |
0.0684 |
|
1_6 |
65.3905 |
6.7421 |
0.1021 |
0.0503 |
0.0097 |
0.8303 |
0.0117 |
0.0065 |
0.0684 |
|
1_7 |
65.3603 |
6.7041 |
0.1075 |
0.0495 |
0.0093 |
0.8903 |
0.0119 |
0.0071 |
0.0677 |
|
1_8 |
65.4161 |
6.7280 |
0.1086 |
0.0461 |
0.0093 |
0.8938 |
0.0115 |
0.0074 |
0.0668 |
|
1_9 |
65.4320 |
6.7036 |
0.1182 |
0.0512 |
0.0096 |
0.9005 |
0.0120 |
0.0079 |
0.0669 |
|
1_10 |
65.4546 |
6.7707 |
0.1072 |
0.0502 |
0.0097 |
0.8868 |
0.0121 |
0.0067 |
0.0677 |
|
平均值Average |
65.4024 |
6.7150 |
0.1107 |
0.0490 |
0.0095 |
0.8693 |
0.0118 |
0.0071 |
0.0677 |
|
标准偏差SD |
0.0316 |
0.0300 |
0.0077 |
0.0016 |
0.0002 |
0.0340 |
0.0002 |
0.0005 |
0.0007 |
|
相对标准偏差RSD |
0.0483% |
0.4466% |
6.9348% |
3.3142% |
2.5743% |
3.9090% |
1.6512% |
6.6142% |
1.0337% |
|
测量次数 |
Na2O (%) |
MgO (%) |
Al2O3 (%) |
As (%) |
Cr (%) |
Ni (%) |
Cu (%) |
Sn (%) |
CaO (%) |
|
1_1 |
0.0203 |
0.7523 |
0.5222 |
0.0065 |
0.1636 |
0.0760 |
0.0476 |
0.0131 |
0.6359 |
|
1_2 |
0.0232 |
0.8134 |
0.5230 |
0.0061 |
0.1584 |
0.0787 |
0.0488 |
0.0114 |
0.6336 |
|
1_3 |
0.0213 |
0.8059 |
0.5407 |
0.0071 |
0.1667 |
0.0796 |
0.0494 |
0.0144 |
0.6345 |
|
1_4 |
0.0216 |
0.7635 |
0.5234 |
0.0072 |
0.1640 |
0.0761 |
0.0485 |
0.0131 |
0.6267 |
|
1_5 |
0.0223 |
0.7815 |
0.5334 |
0.0072 |
0.1640 |
0.0751 |
0.0485 |
0.0131 |
0.6267 |
|
1_6 |
0.0222 |
0.7311 |
0.5512 |
0.0072 |
0.1640 |
0.0741 |
0.0485 |
0.0131 |
0.6267 |
|
1_7 |
0.0212 |
0.7559 |
0.5407 |
0.0071 |
0.1667 |
0.0756 |
0.0494 |
0.0144 |
0.6345 |
|
1_8 |
0.0249 |
0.7737 |
0.5233 |
0.0068 |
0.1576 |
0.0760 |
0.0471 |
0.0131 |
0.6324 |
|
1_9 |
0.0204 |
0.7712 |
0.5123 |
0.0064 |
0.1659 |
0.0750 |
0.0475 |
0.0140 |
0.6241 |
|
1_10 |
0.0236 |
0.8017 |
0.5435 |
0.0071 |
0.1663 |
0.0730 |
0.0489 |
0.0130 |
0.6414 |
|
平均值Average |
0.0221 |
0.7750 |
0.5314 |
0.0069 |
0.1637 |
0.0759 |
0.0484 |
0.0133 |
0.6317 |
|
标准偏差SD |
0.0015 |
0.0261 |
0.0123 |
0.0004 |
0.0033 |
0.0020 |
0.0008 |
0.0009 |
0.0054 |
|
相对标准偏差RSD |
6.6056% |
3.3702% |
2.3177% |
5.8244% |
1.9863% |
2.5892% |
1.6256% |
6.5508% |
0.8578% |
能量色散X荧光光谱仪
矿产检测专家
>无损元素分析涵盖11Na to 92U
>适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆
>多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限
>坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境
Simply the Best
>美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率
>真空测试环境提供ZY轻元素检测效果
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